非接触二维台阶/厚度(粗糙度)测量仪
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- 发布时间:2023-05-24 13:37
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THINKFOCUS一直致力于高精度光谱共焦测量技术的研发,搭载高精度压电扫描机构的CLS-3000二维轮廓仪将光谱共焦的精度发挥到了极致,实现了重复精度10nm,绝对精度20nm的超高精度测量。
突出特点
◆ 更低成本——是传统接触式轮廓仪1/2到1/3价格
◆ 更小体积——是传统接触式轮廓仪1/4体积,方便系统集成
◆ 更小测量光斑——测量光斑2um
◆ 更高精度——10nm重复性、20nm测量精度
◆ 非接触式测量——不会划伤样品表面,没有探针损耗
主要应用于:油墨厚度测量,MLCC厚度测量,厚膜电路测量,银浆厚度测量,激光刻蚀测量,涂胶厚度测量,半导体、特种材料表面粗糙度测量等。
非接触二维台阶/厚度(粗糙度)测量仪
设备主要功能
设备采用压电扫描方式、非接触测量段差,厚度,粗糙度等。
扫描方式:
1、压电扫描台带动测头扫描,样品固定。
2、测头固定,压电扫描台带动样品移动扫描。
规格参数:
传感器测量速度 | 2-20mm/s(可调) |
测量点间距 | ≥5μm自由设置 |
传感器器Z轴量程 | ±55um |
传感器分辨率 | 0.001um |
测量光斑 | φ2um |
测量精度 | 20nm(测量标准台阶) |
电动扫描台行程 |
高精度有效行程20mm(机械行程30mm) |
机台台面尺寸 | 根据实际需要定制 |
扫描重复精度 | 0.01μm |
压电扫描台分辨率 | 0.05um |
非接触二维台阶/厚度(粗糙度)测量仪
配置方案
非接触二维台阶/厚度(粗糙度)测量仪
机台选择
可以选择龙门式的机台,也可以立臂式,或者只选购压电模组,自行集成使用。
单独压电模组
龙门式机台
立臂式机台
非接触二维台阶/厚度(粗糙度)测量仪
测量软件功能介绍(支持中英文双语)
压电扫描台控制、采集测量软件
● 设置扫描起始位置及其他参数,点开始测量即可获取轮廓。
● 数据处理;若获取的轮廓有明显倾斜的时候,可以进行校平处理。可对获取的轮廓进行简单是数据处理,以获得更加有效的轮廓曲线。可设置上/下限,自动判断是否合格。
非接触二维台阶/厚度(粗糙度)测量仪
测量软件功能介绍
压电扫描台控制、采集测量软件
● 可以扫描测量段差,粗糙度,曲率半径等等。
● 对于每次扫描的测量值可以手动记入表中或自动记录在表中,并且可以导出表格。
● 每次扫描轮廓原始数据可以自动保存,生成.csv表格。
上图为记录测量结果导出的表格。
非接触二维台阶/厚度(粗糙度)测量仪
精度测量验证方式
★ 阶规——1/5/10/30/50um标准台阶
★ 平晶——平面度0.03um平面平晶
★ 三丰粗糙度量块
阶规
平晶
粗糙度量块
阶规——1/5/10/30/50um标准台阶
阶规——校准报告
平晶——平面度0.03um平面平晶
OP1传感器测量平晶-验证结果
以下数据为扫描同一位置5次,扫描行程10mm。
◆ CLS-3000 OP1测量值:0.002um
◆ CLS-3000 OP1测量值:0.008um
◆ CLS-3000 OP1测量值:0.004um
◆ CLS-3000 OP1测量值:0.002um
◆ CLS-3000 OP1测量值:0.008um
三丰粗糙度量块
OP1传感器测量粗糙度量块-验证结果
三丰的粗糙度量块:RA 0.41um
测量结果:0.427um
三丰的粗糙度量块:RA 2.93um
测量结果:2.897um
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